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測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同，可大致分為:

　　1、接觸式測(cè)厚儀

　　接觸面積大小劃分:

　　點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀

　　面接觸時(shí)測(cè)厚儀

　　2、非接觸式測(cè)厚儀

　　非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又可分為以下幾種:

　　激光測(cè)厚儀

　　超聲波測(cè)厚儀

　　涂層測(cè)厚儀

　　X射線測(cè)厚儀

　　白光干涉測(cè)厚儀

　　電解式測(cè)厚儀

　　測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。

　　測(cè)量注意事項(xiàng):

　?、痹谶M(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

　?、矞y(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

　　⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

　?、礈y(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

　?、禍y(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

　　⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

　　⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

　?、冈谶M(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。